X光光電子能譜儀(XPS)·微區分析之平面解析度可至5um·光電子影像提供精確定位分析·分子離子槍可減少離子蝕刻所導致的樣品損傷·全能譜平面分布分析有助未知物鑑定 ...,XPS是由X射線照射在材料表面,通過測試出射光電子的動能和從材料表面(一般10納米以內)逃離出來電...
X射線光電子能譜儀 - 科學Online
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2016年6月30日—XPS使用的能量分析器是球面扇狀型(sphericalsectoranalyzer),兩片帶有相反電性的平行球面極板,光電子在電場中飛行,唯有特定能量的電子能到達偵 ...
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