jesd22-c101f

2022年1月22日—在后期的使用中，JEDECJS-002-2018已经对不同的标准进行了统一，而JESD22-C101F在JEDEC官网上的状态已经被撤销。本小节主要是CDM的概览，下节我们再 ...,2023年10月12日—JEDEC:舊規範JESD22-C101F和新規範JS-002-2022，絕大部分產品是使用消費型產品的JEDEC，且建議客戶遵循最新的JS-002-2022。3.LU:JESD78F ...,“JESD22-C101F:Field-InducedCharged-DeviceModelTestMethodforElectrostaticDischargeWithstandTh...

參考資訊如下
CDM测试（1）

2022年1月22日 — 在后期的使用中，JEDEC JS-002-2018已经对不同的标准进行了统一，而JESD22-C101F在JEDEC官网上的状态已经被撤销。 本小节主要是CDM的概览，下节我们再 ...

積體電路靜電防護與閂鎖測試方案規劃和失效驗證流程

2023年10月12日 — JEDEC : 舊規範 JESD22-C101F 和新規範 JS-002-2022 ，絕大部分產品是使用消費型產品的 JEDEC ，且建議客戶遵循最新的 JS-002-2022。 3. LU: JESD78F ...

A Look at the New ANSIESDAJEDEC JS

“JESD22-C101F: Field-Induced Charged-Device Model Test Method for Electrostatic Discharge Withstand Thresholds of Microelectronic Components.” JEDEC ...

JEDEC JESD22-C101F

微电子元件静电放电耐受阈值的场致充电器件模型测试方法, Field-Induced Charged-Device Model Test Method for Electrostatic-Discharge-Withstand Thresholds of ...

Standards & Documents Search

JESD22-C101F, Oct 2013. The material in this test method has been superseded by JS-002-2018, published January 2019, which in turn has been superseded by JS ...

JESD22-C101F

This annex briefly describes most of the changes made to entries that appear in this standard,. JESD22-C101F, compared to its predecessor, JESD22-C101E ( ...

JESD22

FIELD-INDUCED CHARGED-DEVICE MODEL TEST METHOD FOR ELECTROSTATIC DISCHARGE WITHSTAND THRESHOLDS OF MICROELECTRONIC COMPONENTS ...

集成电路ESD防护、闩锁效应的测试方案及失效验证流程

2023年11月13日 — JEDEC：旧规范JESD22-C101F 和新规范JS-002-2022 ，绝大部分产品是使用消费型产品的JEDEC ，且建议客户遵循最新的JS-002-2022。 3. LU. JESD78F：消费 ...

ESD Testing Standards • Electrostatic Discharge

2021年9月19日 — ... JESD22-A114-F:2008 ( Components and microcircuits). EIA/JESD22-A115-C ... C101F:2013 (replaced by JS-002-2018) ( Components and microcircuits) ...