jesd22-c101f
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JESD22-A114-BHBM：15KV.7.7.JEDECEIA/JESD22-C101FCDM：500V.8.8.JEDECEIA/JESD22-A115MM：400V.9.9.符合IEC61000-4-2±30kV（接触）、±30kV（空气）.10.,“JESD22-C101F:Field-InducedCharged-DeviceModelTestMethodforElectrostaticDischargeWithstandThresholdsof...

新ANSIESDAJEDEC JS

JESD22-C101F：微电子器件静电放电耐受阈值的场感应充电器件模型测试方法。JEDEC，2013年10月。6.ANSI/ESDS5.3.1：静电放电灵敏度测试——充电器件模型(CDM)器件 ...

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瞬态电压抑制二极管

JESD22-A114-B HBM：15KV. 7. 7. JEDEC EIA/JESD22-C101F CDM：500V. 8. 8. JEDEC EIA/JESD22-A115 MM：400V. 9. 9. 符合IEC 61000-4-2 ±30kV（接触）、±30kV（空气）. 10.

A Look at the New ANSIESDAJEDEC JS

“JESD22-C101F: Field-Induced Charged-Device Model Test Method for Electrostatic Discharge Withstand Thresholds of Microelectronic Components.” JEDEC ...

JEDEC JESD22-C101F

微电子元件静电放电耐受阈值的场致充电器件模型测试方法, Field-Induced Charged-Device Model Test Method for Electrostatic-Discharge-Withstand Thresholds of ...

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JESD22-C101F, Oct 2013. The material in this test method has been superseded by JS-002-2018, published January 2019, which in turn has been superseded by JS ...

新ANSIESDAJEDEC JS

JESD22-C101F：微电子器件静电放电耐受阈值的场感应充电器件模型测试方法。JEDEC，2013年10月。 6. ANSI/ESD S5.3.1：静电放电灵敏度测试——充电器件模型(CDM)器件 ...

積體電路靜電防護與閂鎖測試方案規劃和失效驗證流程

2023年10月12日 — JEDEC : 舊規範 JESD22-C101F 和新規範 JS-002-2022 ，絕大部分產品是使用消費型產品的 JEDEC ，且建議客戶遵循最新的 JS-002-2022。 3. LU: JESD78F ...

JESD22

FIELD-INDUCED CHARGED-DEVICE MODEL TEST METHOD FOR ELECTROSTATIC DISCHARGE WITHSTAND THRESHOLDS OF MICROELECTRONIC COMPONENTS ...

JESD22-C101F

This annex briefly describes most of the changes made to entries that appear in this standard,. JESD22-C101F, compared to its predecessor, JESD22-C101E ( ...

Transient Voltage Suppression Diodes

Features. 1. Glass passivated chip. 2. 600W peak pulse power capability at 10/1000μs waveform, repetition rate (duty cycle): 0.01%.

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JESD22-A114-BHBM：15KV.7.7.JEDECEIA/JESD22-C101FCDM：500V.8.8.JEDECEIA/JESD22-A115MM：400V.9.9.符合IEC61000-4-2±30kV（接触）、±30kV（空气）.10.,“JESD22-C101F:Field-InducedCharged-DeviceModelTestMethodforElectrostaticDischargeWithstandThresholdsofMicroelectronicComponents.”JEDEC ...,微电子元件静电放电耐受阈值的场致充电器件模型测试方法,Field-InducedCharged-DeviceModelTestMethodforElectrostatic-D...

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