浅谈ESD防护—CDM（一）_专业集成电路测试网

2019年4月1日 — ... 靜電傷害，IC元件等級會用HBM(JEDEC/MIL)來模擬生產過程的靜電等級，或測試插座突破Surge/對岸的朋友叫做浪湧IEC 61000-4-5的標準，在測試訊號上原理 ...

2018年8月22日 — 元件充電模式(CDM)的靜電放電(ESD)被視為象徵ESD充電和快速放電的首要實際ESD模型，能夠恰如其份地表現當今自動化處理設備用於製造和裝配IC時所發生的 ...

充電放電測試(CDM，Charged Device Model)：此模式是指晶片先因磨擦或其他因素而在內部累積了靜電，但在靜電累積的過程中並未被損傷。當此帶有靜電的晶片在使用時，其pin腳 ...

ESD 協會將靜電放電(ESD)定義為「高壓靜電場引發的靜電電荷 ... 雖然GGNMOS 與傳統MOS 在結構和工作原理方面相似 ... 為了精準驗證HBM 和CDM 事件的互連、ESD 元件和核心 ...

2023年3月9日 — 目前主流的SPICE等电路仿真软件都是基于电路原理进行仿真建模，最多将拟合后二级效应代入修正。而HBM与MM等ESD事件需要对电场分布，能量分布等参数进行建 ...

2022年8月19日 — CDM放电事件主要会对MOS器件的栅极造成损坏，造成（dielectric failure）。CDM是三种模型中最难处理的情况，放电时间短，电流幅值大。放电路径与HBM和 ...

為減少感應電場CDM 的危害，ESD 方案應包括處理過程中必要之絕緣. 體的防制措施。若靜電場操過2kV/inch 時，必須採取下列之一的措施：. (1)將絕緣體與ESD 敏感性裝置 ...

靜電放電（electrostatic discharge，ESD）是指在某一絕緣介質的兩面分別出現正電荷和負電荷，並且逐漸累積時，這時加於該絕緣介質上的電壓也會同時增加，當該電壓高於 ...

這些測試流程主要是針對兩種ESD 事件模式：人體模型（HBM）和帶. 電器件模型（CDM）。這些模型用於執行組件測試，無法含括所有可能的ESD 事件，且. 現場和測試系統間的放電 ...