膜厚計原理
膜厚分析的方式相當多,例如X-Ray測厚、渦電流、超音波,三者原理不同,使用上的限制與可量測範圍也不同。X射線螢光鍍層厚度分析,除了傳產,如五金產業;電子產業中也常 ...,無論採用何種原理,只要是利用光的位移計,當目標物薄到無法分離表面的反射光與來自背面...
膜厚測量儀之初探
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當薄膜的厚度是其入射光源的1/4波長的奇數倍時,則來自兩道表面的反射光波會彼此干擾而相互抵消;而當厚度是光的1/2波長的倍數時,則這兩道反射光波會相互加強。因此,當由 ...
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