jesd22-a114

份文件取代之前的ESDA和JEDEC方法（分別為STM5.1-2007和JESD22-A114F）。簡.易...JEDEC標準JESD22-C101：微電子元件的靜電放電耐受臨界值－電場感應帶電器件模型.,式訂定測試規範(JESD22-A114-B(61),其中.人體的等效電容和電阻亦分別為100微微法.拉和1.5千歐姆。一般商用積體電路須達到.2000伏特人體放電模式之靜電放電耐受度.如 ...,JESD22-A114-B.&ESDSTM5.1.AEC-Q100-0.02-REV-C.MIL-STD-883G3015.7.&GJB548A...JED...

參考資訊如下
靜電放電概論

份文件取代之前的ESDA 和JEDEC 方法（分別為STM5.1-2007 和JESD22-A114F）。簡. 易 ... JEDEC 標準JESD22-C101：微電子元件的靜電放電耐受臨界值－電場感應帶電器件模型.

積體電路產品之

式訂定測試規範(JESD22-A114-B (61),其中. 人體的等效電容和電阻亦分別為100微微法. 拉和1.5 千歐姆。一般商用積體電路須達到. 2000伏特人體放電模式之靜電放電耐受度. 如 ...

ESD试验方法和标准

JESD22-A114-B. & ESD STM5.1. AEC-Q100-0. 02-REV-C. MIL-STD-883G 3015.7. & GJB548A ... JEDEC JESD22-A114-B等. （2）依据标准. 电子设备. 元器件. （1）试验对象. Page ...

TVS二极管（ESD保护装置）第2章「什么是ESD试验？」

一般试验条件, 现象模型. HBM (人体模型), JEDEC JESD22-A114, 电子元件 (消费用品), 电容器：100 pF、内部阻抗：1.5 kΩ 施加电压：1/2/4/8 kV, 积聚在在人体的电荷产生ESD ...

JESD22

This test method establishes a standard procedure for testing and classifying microcircuits according to their susceptibility to damage or degradation by ...

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ELECTROSTATIC DISCHARGE (ESD) SENSITIVITY TESTING HUMAN BODY MODEL (HBM). Status: Supersededby ANSI/ESDA/JEDEC JS-001, April 2010. JESD22-A114F, Dec 2008.

2.1 content

... JESD22-A114-A). ，詳細情形請參閱該工業標準。 Test Standard : MIL-STD-883C Method 3015.7. CLASSIFICATION, Sensitivity. Class 1, 0 to 1,999 Volts. Class 2, 2,000 ...

22a114F.pdf

4 Differences between JESD22-A114C, compared to its predecessor, JESD22-A114-B. (June 2000). Page. Description of change. 3. Figure 2b was modified to show ...

AND8104D

JEDEC standards JESD22−A114−B and. JESD22−A115−A. 3. Article about ESD Considerations for Electronic. Manufacturing by Donald E. Frank, 1996. 4. ON ...