fn穿隧原理

,...FN穿隧效應(FN-tunneling),.而我們實驗使用的是FN穿隧效應,因此以下對其原理做說明。穿隧效應利用足夠的電壓差,使能帶彎曲,造成氧化層的有效寬度縮小,.能障變 ...,半導體中的隧道效應(又稱穿隧效應,tunnelingeffect)是指量子穿隧效應體現在半導體元件上的一個例子。這種現象在半導體元件的尺度不斷縮小後愈加明顯。,由陳郁如著作·2004—1FN穿隧(Fowler-Nordheimtunneling)機制之原理.Fowler-Nordheim穿隧機制...F...

一、報告摘要

... FN 穿隧效應(FN-tunneling),. 而我們實驗使用的是FN 穿隧效應,因此以下對其原理做說明。 穿隧效應利用足夠的電壓差,使能帶彎曲,造成氧化層的有效寬度縮小,. 能障變 ...

半導體中的隧道效應

半導體中的隧道效應(又稱穿隧效應,tunneling effect)是指量子穿隧效應體現在半導體元件上的一個例子。這種現象在半導體元件的尺度不斷縮小後愈加明顯。

工學院專班半導體材料與製程設備學程

由 陳郁如 著作 · 2004 — 1 FN 穿隧(Fowler-Nordheim tunneling)機制之原理. Fowler-Nordheim 穿隧機制 ... FN 穿隧方式穿隧過氧化層的三角形. 能障,再注入到氮化矽層中。其臨界電壓(threshold ...

快閃記憶體偏壓影響之研究

這種穿隧過程主要是根據量子力學原理,其穿隧. 機率則 ... 隧氧化層容易捕捉電子造成寫入效率變差及臨限電壓下. 降 ... 圖15.源極端F-N與通道F-N抹除速度 tunneling into ...

第二十一章記憶體電路

(一) 結構特色與所用原理. 此種元件針對於EPROM 的改良 ... 穿隧,常簡稱為FN 穿隧現象。 (2) 這般修改的懸浮閘 ... 原理,則是:. (1) 寫入方式:運用熱電子累增注入效應.

綜觀非揮發性記憶體技術-SONOS 與奈米晶體元件

德翰穿隧機制進行訊號抹除(Fowler-Nordheim, FN). 的操作方式將會遇到困難(2)。為了避免這些限制,. 考慮使用氮化物缺陷或奈米儲存單元來儲存載子的. 新記憶體元件概念 ...

量子穿隧效應

在量子力學裏,量子穿隧效應(Quantum tunneling effect)指的是,像電子等微觀粒子能夠穿入或穿越位勢壘的量子行為,儘管位勢壘的高度大於粒子的總能量。

高介電係數閘極介層技術

其中,閘. 極氧化層穿隧電流的產生,是因為當閘. 極氧化層厚度隨元件尺寸縮小而遞減至. 10nm以下時,FN穿隧機制上升,而至約. 3nm 以下,則由直接穿隧(Direct. Tunneling) ...