白光共軛焦

STED顯微鏡應用壓制雷射形成donut以壓制螢光，產生比共軛焦顯微影像更高解析度的gatedSTED影像，其光學解析力至50nm以下，是為不經運算之純光學超解析技術。STED技術中， ...,研德企業有限公司於1997年由董事長陳愔創立，專注於共軛焦顯微鏡、白光干涉儀和半導體封測廠的主要材料如IC封裝載板，測試晶圓(dummywafer)，晶圓框架(waferframe) ...,KFM-xpert·微觀表面非接觸式量測光學輪廓儀·最新光學設計白光干涉儀及共軛焦顯微...

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STED顯微鏡應用壓制雷射形成donut以壓制螢光，產生比共軛焦顯微影像更高解析度的gated STED影像，其光學解析力至50 nm以下，是為不經運算之純光學超解析技術。STED技術中， ...

共軛焦顯微鏡、白光干涉儀-研德企業有限公司Gain

研德企業有限公司於1997年由董事長陳愔創立，專注於共軛焦顯微鏡、白光干涉儀和半導體封測廠的主要材料如IC封裝載板，測試晶圓(dummy wafer)，晶圓框架(wafer frame) ...

KFM-xpert

KFM-xpert · 微觀表面非接觸式量測光學輪廓儀 · 最新光學設計白光干涉儀及共軛焦顯微鏡2合一使用 · 配備6個鏡頭座,可安裝於任何表面瑕疵/粗度/3D輪廓自動化檢查機台 · 可 ...

KFM_白光干涉儀共軛焦顯微鏡_產品介紹

微觀表面非接觸式量測光學輪廓儀; KFM 共軛焦顯微鏡使用最新旋轉Nipkow 圓盤進行區域共焦量測; 配備單一鏡頭,可安裝於任何表面瑕疵/粗度/3D輪廓自動化檢查機台 ...

共軛焦顯微鏡+白光干涉（二合一）

共軛焦顯微鏡+白光干涉（二合一） · 微結構物高解析3D測定只需要幾秒鐘 · 可測定高低反射之透明材料 · Z軸解析度可達1nm-0.1nm(依鏡頭倍率而定) · 可測定形貌之功能：粗度 ...

形狀分析雷射共軛焦兼白光干涉顯微鏡- VK

搭載白光干涉儀從奈米到毫米無所遁形 ... 採用雷射共軛焦、白光干涉、Focus Variation 3種不同掃描原理的「三重掃描方式」。以高精度量測、分析各種目標物。實現最高解析度 ...

Sensofar 3D光學非接觸量測系列(白光干涉儀共聚焦)

產品描述: Sensofar 在2004年成功開發了最新的plu技術，順利結合了共軛焦及干涉技術於一個感測頭中，完全不需要硬體拆裝，完全不需要硬體拆裝，只要從軟體上即可做 ...

點白光共軛焦感測器

產品說明: CHRocodile 點傳感器可以測量地形、形狀公差、任何一種表面的粗糙度以及透射和紅外透射材料的厚度。這些高精度點傳感器使用光學白光共焦或干涉測量，實現厚度、 ...

線白光共軛焦感測器

該感測器提供沿線樣品的超精確距離和層厚度資料。透過快速線掃描，可以在很短的時間內確定樣品的3D 結構。線感測器的彩色共焦測量技術提供極高的橫向和軸向解析度資料， ...