半導體檢測設備

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晶彩科技之半導體光學檢測設備，採用高速動態光學取像系統及影像品質穩定硬體設計，搭配獨有檢測演算軟體，提供精確的缺陷偵測與分類，並滿足不同客戶對於8吋及12吋晶 ...

AOI 自動光學檢測設備 · 高速、非接觸、3D/2D表面形貌量測 · 白光干涉儀主要應用： －測量MEMS －薄膜分析應用 －測量次奈米表面形貌 －半導體前後段量測應用.

KLA在半導體，和其他延伸領域，比如說PCB或平面顯示器領域提供檢測設備及分析軟體，在各領域檢測設備的平均市佔達到五成以上。 · 半導體有五大製程（黃光、蝕刻、擴散、薄膜 ...

晶圓外觀檢查機(切割前) · 晶圓外觀檢查機(切割後). 1. 產品分類. 隱形眼鏡檢測設備 · 平面顯示器檢測系列 · 半導體檢測系列 · 其他檢測系列 ...

由田新技成立於西元1992年，是以機器視覺(Machine Vision)技術為核心的自動光學外觀檢測設備與製程知識平台(Process Knowledge Platform)的研發與銷售。

WIM 300系列針對半導體晶圓於製程中所產生瑕疵提供精準光學檢量測分析，為兼具2D及3D檢量測功能之最佳品質控管利器。 商品介紹. 高解析度CCD結合多角度燈光模組，有效 ...

晶圓自動光學檢測設備. WIM200系列提供晶圓外觀檢量測分析，針對不同類型的產品表面材質以不同光源掃描，同時整合多工多核影像處理技術，達到高檢出的效益。

COF AOI 針對未上SR的COF捲帶進行線路檢測，可檢出斷線、短路、缺口等各式線路缺陷；獨家連續檢測模式有效節省等待時間並提高產出效益；並可彈性搭配Punch站別及複檢功能， ...

晶圓探針卡自動光學檢測設備應用在晶圓探針卡入料品質控制（IQC）檢測及修補檢測，檢測項目包含探針尖平面度、探針長度、探針直徑、探針位置偏移、探針導板平面度、螺絲 ...