電子繞射
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RHEED(反射高能電子繞射儀)是觀察晶體生長最重要的即時監測工具之一。它可以通過非常小的掠射角將能量為10~30KeV的單能電子掠射到晶體表面,通過衍射斑點獲得薄膜 ...,低能電子繞射(英語:Low-energyelectrondiffraction,LEED)是一種用以測定單晶表面結構的實驗手段,使用準直(英語:Collimatedlight)的低能電子束(20–200eV) ...,2016年9月27日—利用繞射技術對分子結構進行探討並不是什麼大新聞,X光繞射鑑定分子結構...
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