x-ray diffraction 原理
X光繞射(XRD)是一種多功能的非破壞性分析技術,可用於分析物理性質,如粉末、固體與液體樣品的相組成、晶體結構及方向。許多材料都是由微小晶粒所構成。這些晶體的化學 ...,由楊仲準著作—本文將由X光粉末多晶繞射分析技術出發,並藉由所獲得之晶體參數,介紹其延伸...
X光繞射分析(XRD)
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2017年7月3日—X光繞射分析(X-raydiffractionanalysis,XRD)是透過X光與晶體的繞射產生圖譜,並從圖譜資料庫比對,即可推論出材料晶體的排列結構、晶體排列的方式 ...
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