x-ray diffraction 原理
X光繞射(XRD)是一種多功能的非破壞性分析技術,可用於分析物理性質,如粉末、固體與液體樣品的相組成、晶體結構及方向。許多材料都是由微小晶粒所構成。這些晶體的化學 ...,由楊仲準著作—本文將由X光粉末多晶繞射分析技術出發,並藉由所獲得之晶體參數,介紹其延伸...
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X光和晶體為什麼可以作結構分析,主要是利用光遇到適當的阻礙誤會產生繞射(diffraction)這種物理現象。舉例來說,把石頭丟入水池,產生水波碰到牆壁反射回來,但是當牆壁 ...
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