jesd22 a108c
2022年7月28日—JEDECJESD22-A108;.目的:评估器件在超热和超电压情况下一段时间的耐久力;.失效机制:电子迁移,氧化层破裂,相互扩散,不稳定性,离子玷污等 ...,标准号:JEDECJESD22-A108C-2005;发布:2005年;发布单位:(美国)固态技术协会,隶属EIA.适用范围:适用的...
芯片可靠性测试要求及标准解析原创
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2021年1月22日—本测试用于确定偏置条件和温度随时间对固态器件的影响。它以加速的方式模拟设备的运行条件,主要用于设备鉴定和可靠性监控。一种使用短持续时间的高温偏置 ...
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